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🇨🇳 AIによる再構成可能なテストおよび計測。固定機能の計測機器から、オンデマンドで生成されるカスタムテストプラットフォームまで。
プレゼンター： レ・ワン
光学およびフォトニクス向けカスタムAI対応計測機器の可能性を解き放つ
プレゼンター： ジェイソン・ボール博士
エージェント型AIと再構成可能なハードウェアの融合：生成計測機器の紹介
プレゼンター： Jessica Patterson
🇨🇳 ソフトウェア定義型で再構成可能なハードウェアによる、テストおよび計測のためのリアルタイム信号処理
プレゼンター： ロビン・ルー
現代のクロックおよびタイミングシステムにおける安定性の測定
収録日： 2026 年 4 月 28 日
プレゼンター： ローラ・ベセラ博士
再構成可能なハードウェアを用いたデジタル位相同期ループの実装
収録日： 2026 年 4 月 7 日
プレゼンター： ジェイソン・ボール博士
RFおよびEWシステム検証のための高帯域幅記録、再生、リアルタイム解析
収録日： 2026 年 3 月 25 日
プレゼンター： ブライアン・ネフ博士
PythonとFPGAベースのツールで並列デバイステストをスケールする方法
収録日： 2026 年 2 月 11 日
プレゼンター： Jessica Patterson
再構成可能なハードウェアによる単一光子イベントの計数と相関
収録日： 2026 年 1 月 29 日
プレゼンター： ジェイソン・ボール博士