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使用可重构、基于 FPGA 的仪器测量单光子事件:问答回顾

详细了解光子计数的优势、如何从区间直方图计算自相关性以及如何将光子计数设置与外部触发器集成

2025 年 4 月 18 日

    本次回顾和问答活动是对我们网络研讨会的补充, 使用可重构的、基于 FPGA 的仪器测量单光子事件, 我们与 Laser Focus World 于 15 年 2025 月 XNUMX 日联合举办了此次活动。如果您无法现场观看,可以立即注册点播 点击此处。

    除了网络研讨会摘要之外,我们还针对以下选定的观众问题提供深入的解答。

    网络研讨会回顾

    在本次演讲中,我们概述了 光子计数,包括物理设置和潜在应用,包括优势、挑战和关键要求。我们介绍了基于 FPGA 的 Moku 平台及其可重构的测试和测量仪器套件,重点介绍了 Moku 时间间隔与频率分析仪由于其结合了高数据吞吐量、并行处理和零死区时间,它可以作为一种有效的光子计数解决方案。  

    在现场演示中,我们部署了时间与频率分析仪以及其他仪器,使用 多仪器并行模式首先,我们生成一个数字数据序列,并通过脉冲位置调制 (PPM) 将其编码到脉冲载波上,然后使用时频分析仪检测并解码波形。在第二个演示中,我们使用电脉冲和 Arduino Uno 模拟了 Hanbury-Brown-Twiss 装置。我们实时观察了直方图的填充情况,并演示了如何使用时频分析仪收集导出带时间戳的数据。

    观众提问

    为什么测量单光子事件更准确,特别是在长距离激光雷达等应用中?

    在激光雷达中,信息要么通过幅度、相位或频率的调制(对于连续源),要么通过脉冲间隔(对于脉冲源)进行编码。短距离传输时,返回信号的保真度通常较高。然而,长距离传输时,信号容易受到大气的严重干扰,导致返回功率衰减至较低水平。 

    在这种情况下,使用模拟探测器时,它可能会受到来自热过程和任何现有放大器的背景噪声的干扰。这种方法会导致信噪比 (SNR) 较差,并使相干解调变得困难。相比之下,单光子探测器仅在检测到真实光子事件时才会发出“咔哒”声,从而消除了模数转换器引入的输入噪声。探测单光子还可以实现精确的时间戳、“门控”信号(仅在预期信号时监听信号)以及在多次迭代中求平均值的能力。与相干解调方法相比,这些因素可以提高信噪比。 

    量子光学中有一个g2参数,用来测量自相关效应(重合率)。您能解释一下如何量化g2参数吗?

    二阶相关函数 g2(𝜏) 用于衡量探测到两个间隔时间 𝜏 的光子的概率,该概率已归一化为非相关光子的预期值。当 𝜏=0 时的值尤为重要,因为它可以推断光源的信息。例如:

    • 如果 g2(0) > 1,则光源倾向于成组地发射光子。这称为聚束行为,通常表明该光源为热光源。
    • 如果 g2(0) < 1,则光源倾向于以规则的间隔发射光子,一次发射多个光子的概率很小。这被称为反聚束行为,是单光子光源的理想特性。
    • 如果 g2(0) = 1,则发射的光子之间没有相关性。这通常适用于相干光源,例如激光器。

    您可以在我们的 Hanbury-Brown-Twiss 中阅读有关自相关函数的更多信息 配置指南.

    至于如何计算给定 HBT 数据集的 g2(𝜏) 函数,可以通过符合率 C(𝛕) 的直方图以及探测器 A 和 B 记录的独立事件总数来获得此信息。g 的计算公式为:2(𝜏)作为延迟时间 𝜏 的函数,由下式给出:

    \(g^2(tau) = frac{C(tau)T}{N_a N_b Delta tau}\)

    其中 C(𝛕) 是以延迟时间 𝛕 为中心的区间内发生的重合事件的数量, 是以时间单位表示的区间宽度, T 是时间测量的总长度,NA 和NB 分别是探测器 A 和 B 捕获的单个事件的总数。 

    要使用 Moku 时间频率分析仪执行此操作,您可以使用嵌入式数据记录器生成带有时间戳的事件 A 和 B 列表。然后,您可以将这些数据导出到主机,在主机上您需要定义区间宽度并计算每个时间段的重合率。有了足够多的事件,这应该可以估算出源的自相关率。

    对于 Hanbury-Brown-Twiss 测量,可以使用同步脉冲和配对的探测器进行触发吗?这是否需要 Moku:Pro 的三个输入通道?还是 Moku:Go 和 Moku:Lab 也可以用于此?

    是的,你可以使用同步脉冲。事实上,你可能根本不需要使用第三个模拟通道,因为 Moku:Pro 和 Moku:Lab 背面有一个 TTL 触发输入,也可以用来触发拍摄。可惜的是,Moku:Go 不支持 TTL 触发输入,所以你只能使用一个输入通道。

    有几种方法可以将此触发器集成到时间与频率分析仪的测量中。如果您想测量从触发事件到某个光子事件的时间,可以在“事件”选项卡中将事件 A 至 D 中任意一个事件的输入源设置为“外部触发”,如图 1 所示。

    图 1:时间与频率分析仪中的事件可以来自外部触发输入以及任何模拟输入通道。 

    如果您只想捕获触发窗口内发生的事件,可以导航至“间隔”选项卡,并将采集模式设置为“门控”。此门控的来源可以是任何模拟输入,也可以是外部触发器,如图 2 所示。您还可以根据需要调整门控阈值。

    图 2:除了连续模式和窗口模式之外,时间与频率分析仪还支持门控模式,在该模式下,只有在应用的门控处于活动状态时才会捕获事件。 

    哪些因素限制了最大事件发生率?

    Moku 时间与频率分析仪指定了两种最大事件速率:一种用于突发记录,一种用于持续记录。对于持续记录,10 MSa/s 的事件速率主要受限于 Moku:Pro SSD 的写入速度,而非 FPGA 本身的物理限制。 

    Moku:Pro 的最大突发速率为 312.5 MSa/s,值得进一步研究。Moku:Pro 前端的 ADC 最大采样率为 1.25 GSa/s。然而,由于 Moku 使用线性插值来精确确定时间戳,因此每个事件必须至少记录两个样本。如果您想了解更多关于此过程的信息,请查看我们的 应用笔记 关于这个话题。此插值序列对事件记录速率设置了硬性上限。由于 DSP 算法的实现方式,事件记录速率的实际上限最终为每四个 ADC 样本记录一个事件——对于 Moku:Pro 来说,上限为 312.5 MSa/s。 

    亚稳态会是个问题吗?因为在现实世界中,你会触发与你的时钟异步的外部事件。你们在仪器中如何处理这个问题?

    亚稳态是指 FPGA 的一个常见问题,即给定寄存器在非常接近下一个时钟沿的时间接收输入。由于输入在时钟翻转之前无法“稳定”,这可能导致 FPGA 表现出异常行为。这些状态被称为“亚稳态”,寄存器的值无法明确定义为 0 或 1。在光子计数中,如果将异步数字信号直接传递给 FPGA,这可能会成为一个问题,因为这些事件是随机的——很可能最终会在接近时钟沿的位置发生事件。这可能会导致数据丢失或时间戳不准确。

    在 Moku 的案例中,来自一些单光子探测器的 TTL 信号首先经过模拟前端。尽管这些信号从技术上讲是“数字”的,但 ADC 会将其视为模拟信号,并进行相应的数字化。由于 ADC 与 FPGA 上的系统时钟同步采样,因此所有时序均受控制,因此 Moku 时频分析仪不会出现亚稳态问题。

    感谢您观看我们的网络研讨会。我们期待再次见到您。

    如需更深入的演示,请查看我们的 网络研讨会页面 来点播观看。

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