最新版本为 Moku 设备带来了新的仪器，以及诸如互相关测量、同时控制多个 Moku 设备的能力以及更低的 Moku:Pro 输入噪声等增强功能。
准确、可重新配置的事件和间隔分析
Moku 时间间隔和频率分析仪 结合了时间间隔分析仪、事件计数器和频率分析仪的功能，为光子计数、振荡器表征、X 射线衍射、自由空间光通信和脉宽调制解码等应用提供了多功能工具。它精确测量事件数量和事件之间的时间间隔，并通过易于使用的界面进行配置。
- 监视和计数多达四个独立事件，定时抖动 < 20 ps RMS，并执行时间间隔测量，例如上升和下降时间、脉冲宽度或占空比。
- 以最小 bin 宽度 0.78 ps 分析时间间隔的无损实时直方图和统计数据，捕获并显示数万亿个事件，而无需将 GB 的数据流式传输到计算机。
- 将原始事件时间戳记录到板载存储或文件中，以实现后处理的最大灵活性。
- 输出与间隔成比例的缩放电压，以解码脉宽调制信号、控制激光功率或与 PID 控制器 用于闭环控制。
与传统仪器不同，Moku 平台的集成方法可提高测量和数据分析效率，提供可快速配置和重新配置的直观控制和结果查看。
Moku 时间和频率分析仪同时测量两个间隔，并实时绘制相应的直方图。
加入我们的网络研讨会 于 22 月 8 日太平洋夏令时上午 4 点（英国夏令时下午 XNUMX 点）与 SPIE 合作，了解有关 Moku 时间和频率分析仪的更多信息，以及基于 FPGA 的单个系统如何优化相位噪声分析和光子计数。
为您的测试设置构建任务控制中心
用户现在可以同时控制所有 Moku 设备，以实现更高效的控制和数据可视化。使用单个应用程序来集中配置和结果，可以轻松扩展通道数量或添加更多仪器，而不会增加复杂性。此增强功能加入了上一版本中引入的多窗口仪器控制，现在也可以在 苹果视觉专业版.
两台 Moku 示波器仪器在单独的 Moku:Pro 设备上运行，同时测量和显示八个通道。
使用 Moku:Pro 进行低噪声测量
Moku:Pro 频谱分析仪 现在提供互相关测量，这是一种有用的信号处理工具，可用于降低测量本底噪声或分析两个相似信号。对于相位噪声检测等应用，互相关可消除不相关噪声，从而实现低于测量设备模拟输入噪声的测量。在此处的博客中阅读有关互相关的更多信息。
此版本还提供了 Moku:Pro 的额外噪声性能改进。 120 kHz 至 75 MHz 范围内的峰值本底噪声已从 1 nV/√Hz 降至 1 nV/√Hz，同时将高频噪声提高至 20 nV/√Hz。在此频带之外，输入噪声系数保持不变。
250 MHz 下两个信号的互相关测量。该函数消除了不相关的噪声，从而提高了输入信号的 SNR。
方便的快捷键和 LED 控制
对于光敏实验，例如单光子光源表征，用户现在可以关闭 Moku 设备上的前面板 LED。我们还更新了键盘快捷键列表，以提供控制多个 Moku 设备的新选项。通过依次单击“设置”图标、“帮助”和“快捷方式列表”，可以从 Moku 主屏幕找到这些内容。
通过简单的软件更新升级您的 Moku
新的时间和频率分析仪可供所有当前全套捆绑包用户免费使用。为您购买时间和频率分析仪或其他仪器 Moku:Pro, Moku:Lab或 Moku:Go 设备，请访问我们的 网上商店 并通过许可证更新进行升级。
对于您已经拥有的仪器，只需将软件更新至 3.2 版，即可免费使用所有新功能。您可以下载 Windows 和 macOS 应用程序更新 此处，或iPadOS和visionOS应用程序更新 此处. 有关更新的分步说明，请查看此 知识库文章.
最后，我们更新了一些最低系统要求。运行 macOS 和 iPadOS 的用户需要分别至少升级到版本 11.0 和 14.0。 Windows 用户的最低要求没有改变。
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